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Fujinon XF 55-200 mm f/3,5-4,8 R LM OIS : Le piqué

Materiel
24/10/2013 | Jean-Marie Sépulchre

Le piqué a été mesuré en Jpeg en style « Standard » et il est de très haut niveau pour un tel zoom, excellent sur tout le champ dès la pleine ouverture à 55 et 140 mm, excellent au centre et encore au sommet du grade très bon dans les angles à 200 mm. Pour le paysage les meilleures performances sont obtenues à f/8. On est là au niveau des zooms « f/4 » de Canon ou Nikon, et nettement au dessus des zooms de kits courants 55-200 mm d’autres marques. Il est à noter que si l’on veut encore affiner la netteté en partant d’un fichier Raw, Capture One et Lightroom 5 sont compatibles, ce qui n’était pas encore le cas lors de notre premier essai du XPro1.


Ci-dessus : Carte de piqué pour le format 33 × 49 cm : les cases bleues indiquent les très bons et excellents résultats en matière de netteté.

- 55 mm :

Ci-dessus : Graphique détaillé du piqué à 55 mm selon l’ouverture (mesures pour le format 33 × 49 cm).

- 140 mm :

Ci-dessus : Graphique détaillé du piqué à 140 mm selon l’ouverture (mesures pour le format 33 × 49 cm).

- 200 mm :

Ci-dessus : Graphique détaillé du piqué à 200 mm selon l’ouverture (mesures pour le format 33 × 49 cm).

MDLP N°60, Octobre 2013
- Retrouvez l’intégralité de notre test du Fujinon XF 55-200 mm f/3,5-4,8 R LM OIS notre numéro soixante du MondedelaPHOTO.com, actuellement en kiosque.
- Lire le sommaire du N° 60 de MDLP

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